ebook img

Вып. 18 PDF

215 Pages·2019·6.731 MB·Russian
Save to my drive
Quick download
Download
Most books are stored in the elastic cloud where traffic is expensive. For this reason, we have a limit on daily download.

Preview Вып. 18

ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА, МИКРОЭЛЕКТРОНИКА И НАНОЭЛЕКТРОНИКА Межвузовский сборник научных трудов Выпуск 18 Воронеж 2019 МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Воронежский государственный технический университет» ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА, МИКРОЭЛЕКТРОНИКА И НАНОЭЛЕКТРОНИКА Межвузовский сборник научных трудов Выпуск 18 Воронеж 2019 УДК 621.38.002.3(06) ББК 32.85я4 Т263 Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника: межвуз. сб. науч. тр.; ФГБОУ ВО Т263 «Воронежский государственный технический университет». - Воронеж: Изд-во ВГТУ, 2019. - Вып. 18. - 213 с. ISBN 978-5-7731-0821-4 В межвузовском сборнике научных трудов представлены результаты исследований в области твердотельной электроники, микроэлектроники и наноэлектроники, проведенных в ряде вузов г. Воронежа. Материалы сборника соответствуют научному направлению «Пер- спективные радиоэлектронные и лазерные устройства и системы передачи, приема и обработки информации» и перечню критических технологий Рос- сийской Федерации, утвержденному Президентом Российской Федерации. Издание предназначено для специалистов, работающих в области твердотельной электроники и микроэлектроники. Сборник будет также полезен аспирантам направления подготовки 11.06.01 «Электроника, ра- диотехника и системы связи» и студентам направления подготовки 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника». УДК 621.38.002.3(06) ББК 32.85я4 Редакционная коллегия: С. И. Рембеза – Заслуженный деятель науки РФ, д-р физ.-мат. наук, проф. – ответственный редактор, Воронежский государственный технический университет; С. А. Акулинин – д-р техн. наук, проф., Воронежский государственный технический университет; Е. К. Плотникова – канд. техн. наук, доц. – ответственный секретарь, Воронежский государственный технический университет; А. А. Винокуров – ассистент, Воронежский государственный технический университет Рецензенты: кафедра физики полупроводников и микроэлектроники Воронежского государственного университета (зав. кафедрой д-р физ.-мат. наук, проф. Е. Н. Бормонтов); д-р физ.-мат. наук, проф. Ю. Е. Калинин Печатается по решению научно-технического совета Воронежского государственного технического университета ISBN 978-5-7731-0821-4 © ФГБОУ ВО «Воронежский государственный технический университет», 2019 ВВЕДЕНИЕ Медвузовский сборник научных трудов «Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника» выходит в во- семнадцатый раз. По сложившейся традиции в сборнике объедине- ны результаты исследований преподавателей и научных работников нескольких вузов и научно-исследовательских организаций г. Воро- нежа: Воронежского государственного технического университета, Воронежского государственного университета, Воронежского госу- дарственного университета инженерных технологий, Международ- ного института компьютерных технологий, Военно-воздушной ака- демии им. Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина», АО «Научно-иссле- довательский институт электронной техники», ОАО «Научно-иссле- довательский институт полупроводникового маширостроения», а также Липецкого государственного технического университета. Статьи охватывают широкий круг актуальных вопросов твердотельной электроники, микроэлектроники и наноэлектроники, посвящены проблемам исследования новых перспективных матери- алов, проблемам конструирования и проектирования, моделирова- ния технологических процессов, разработке новых технологических процессов, исследованию влияния внешних воздействий на пара- метры полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также разработке новых приборов и устройств в микроэлектронике. Сборник содержит результаты исследований, выполненных научными коллективами при участии аспирантов, магистрантов и студентов, а также научных и инженерно-технических работников вузов и научно-исследовательских учреждений. Во многих случаях это экспериментальные данные, полученные при выполнении док- торских и кандидатских диссертаций, выпускных квалификацион- ных работ. Большинство работ имеет несомненную практическую ценность. Сборник предназначен для специалистов, работающих в об- ласти твердотельной электроники и микроэлектроники, может быть полезен аспирантам направления подготовки 11.06.01 «Электроника, радиотехника и системы связи», направленности 05.27.01 «Твердо- тельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах», а также студен- там направления подготовки 11.03.04 «Электроника и наноэлектро- ника». 3 УДК 538.975 С.И. Рембеза, А.А. Носов, С.А. Белоусов* СВОЙСТВА ПЛЕНОК Zn SnO , ИЗГОТОВЛЕННЫХ ЗОЛЬ-ГЕЛЬ 2 4 МЕТОДОМ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ УФ-ИЗЛУЧЕНИЯ Работа посвящена исследованию тонких пленок Zn SnO, изготов- 2 4 ленных золь-гель методом. Необходимый химический состав пленок до- стигается путем применения термического отжига совместно с УФ- излучением. Синтезированные пленки Zn SnO имеют прозрачность 2 4 60 – 70 % и могут быть применены в прозрачной электронике. Металлооксидные полупроводники вызывают значительный интерес в качестве слоев для тонкопленочных транзисторов из-за высокой подвижности электронов, хорошей однородности и высо- кой прозрачности, однако изготовление данных пленок требует вы- соких температур. Среди различных попыток достичь низкотемпе- ратурного синтеза комбинация ультрафиолетового отжига и золь- гель метода является наиболее перспективным методом благодаря эффективному удалению органических компонентов и ускорению конденсации М-О-М с помощью сочетания термического отжига и УФ-облучения. В качестве исследуемого металлооксида был выбран станнат цинка ввиду его электропроводности и дешевизны исходных компо- нентов. Цель работы – получение прозрачных, промеряемых пленок Zn SnO с применением золь-гель методики и УФ-отжига. 2 4 В качестве исходных компонентов для приготовления рас- твора были выбраны: ацетат цинка, хлорид олова. Данные вещества, в соотношении 2 : 1, соответственно, перемешивались в 2-метокси- этаноле на магнитной мешалке в течение 2 ч при 75 оС до полного растворения [1]. Далее, выше полученный золь при комнатной тем- пературе переходил в фазу геля в течение 15 дней (рис. 1). Анализ полученного графика показывает, что образование геля начинается через 10 дней после приготовления раствора. На 15-ый день гелеобразование останавливается, раствор становится мутным, светло-желтого цвета. 4 Рис. 1. Изменение вязкости раствора в течение 15 дней Образовавшийся гель наносился тонким слоем на стеклян- ные подложки с помощью центрифугирования при 1500 об/мин. По- сле чего образцы были термообработаны при 110 оС в течение 6 ч. Поверхностное сопротивление пленок Zn SnO после сушки соста- 2 4 вило порядка - облучению при температуре 320 оС в течение 72 ч для удаления лишних компонентов из пленок. После обработки УФ-облучением поверхностное сопротивление уменьшилось до порядка Изготовленные образцы Zn SnO имеют толщину порядка 2 4 1,5 мкм, а также прозрачны в видимой области спектра, обладая пропусканием в пределах 60 – 70 % (рис. 2). По известной толщине образца вычислили коэффициент по- глощения пленок Zn SnO и затем спектр пропускания построили в 2 4 координатах (αhν)2 = f(hν) (рис. 3). По полученному графику можно легко найти значение ширины запрещённой зоны образцов станната цинка, продлив прямую линию до пересечения с осью абсцисс. Из рис.3 видно, что ΔEg ≈ 3,5 эВ, что хорошо согласуется со справоч- ным значением ширины запрещённой зоны для Zn SnO [2]. 2 4 Были получены рентгеновские спектры синтезированных об- разцов (рис. 4), из которых видно, что пленка содержит необходи- мую фазу Zn SnO , а также, что отсутствуют фазы с наличием хлора, 2 4 который присутствовал в исходных компонентах. 5 Рис. 2. Спектр пропускания пленки Zn SnO 2 4 Рис. 3. Зависимость (αhν)2 от энергии 6 Рис. 4. XRD анализ тонких пленок Zn SnO после отжига 2 4 с использованием УФ-излучения Была разработана методика получения коллоидных раство- ров, а также выбран способ нанесения для дальнейшего получения тонких пленок. Золь-гель методика синтеза пленок была выбрана ввиду своей простоты и дешевизны процесса. Также было определе- но время, которое требуется пленкам для кристаллизации. Исследо- ванные электрофизические свойства пленок Zn SnO доказывают 2 4 возможность применения их в качестве слоев для прозрачных тон- копленочных транзисторов. Литература 1. Bhabu K.A. Synthesis and characterization of zinc stannate nanomaterials by sol-gel method [Текст] / K.A. Bhabu, J. Theerthagiri, J. Madhavan et al. // Materials Science Forum. – 2015. - V. 832 - Р. 144 - 157. 2. Tiekun J. Synthesis, characterization, and photocatalytic activi- ty of Zn-Doped SnO /Zn SnO coupled nanocomposites [Текст] / 2 2 4 J. Tiekun, Z. Junwei, F. Fang et al. // International Journal of Photoener- gyю - 2014. - V. 10. – Р. 1 – 7. Воронежский государственный технический университет *АО «Научно-исследовательский институт электронной техники», г. Воронеж 7 УДК 621.372 С.Ю. Яковлев РАЗРАБОТКА АНАЛОГОВОЙ ЧАСТИ ПОРТАТИВНОГО ГАЗОАНАЛИЗАТОРА ОКИСИ АЗОТА Рассматривается проектирование аналоговой части портативного ручного газоанализатора для измерения концентрации окиси азота (NO) в х выдыхаемом воздухе человека. Схема содержит мост Уитстона, измери- тельный усилитель и аналоговый цифровой преобразователь. В САПР Orcad Capture PSPICE 17.2 Professional была разра- ботана схема газоанализатора окиси азота. Аналоговая часть состоит из моста Уитстона, где находится газочувствительная пленка, кото- рая способна изменять свое сопротивление при появлении газа оки- си азота в воздухе. R , R и R – это постоянное сопротивление, а R обозначает- 1 2 3 x ся газочувствительная пленка, сопротивление которой 1 МОм и оно может уменьшается до 10 кОм (рис. 1). а б Рис. 1. Спроектированная схема мостика Уинстона в САПР Orcad Capture PSPICE 17.2 Professional: а – разбалансированный мост; б – сбалансированный мост 8 Но из-за большого сопротивления резисторов получается маленькое напряжение, и чтобы его усилить применим измеритель- ный усилитель [1, 2]. Сам измерительный усилитель состоит их трех операционных усилителей LM741 и семи резисторов (рис. 2). Рис. 2. Спроектированная схема измерительного усилителя в САПР Orcad Capture PSPICE 17.2 Professional После чего идет аналоговый цифровой преобразователь, ко- торый преобразовывает напряжение в цифровой сигнал (рис. 3). Рис. 3. Полученный цифровой сигнал на выходе 9

See more

The list of books you might like

Most books are stored in the elastic cloud where traffic is expensive. For this reason, we have a limit on daily download.